고객만족을 최우선으로 하는 기업사업소개

APACT NOTICE반도체 TEST

  • 에이팩트은 Memory Test의 전기적 특성 검사를 지원하기 위한 대표적인 장비들을 보유하고 있으며, Laser Marking, Visual Inspection, Bake, Tape & Reel등의 장비를 보유하여 Backend 서비스까지 완벽하게 제공합니다.

  • PKG TEST 다양한 Package의 정확한 전기적 특성 검사를 진행하기 위한 Tester, Handler 장비들을 보유하고 있으며, Test 진행에 필요한 Accessory (DSA Board, HIFIX Board, COK)의 신속하고 저렴한 공급을 지원하고 있습니다.

  • TESTER

    TESTER
    TEST PROCESS MAKER MODEL SPEED DUTS(MAX) TARGET DEVICE
    Memory TEST ADVANTEST T5503HS 4.511Gbps 512 DDR4 / LPDDR4
    T5503 2.286Gbps DDR3,4 / LPDDR3 / EMCP
    T5833 2.4Gbps 512 LPDDR4
    T5588 / T5588S 800Mbps 1024 / 512 DDR3,4 / LPDDR2,3,4
    T5593 1.066Gbps 128 DDR3 / GDDR3
    T5377 / 77S 286Mbps 256 NAND FLASH
    NEXTEST MAGNUM Ⅰ SSV 100Mbps 320 NAND FLASH
    MAGNUM 5X 1.6Gbps 640 EMCP
    UNITEST SHM-9G 4.5Gbps 512 DDR4 / LPDDR4 / GDDR4,5

  • HANDLER

    HANDLER
    MAKER MODEL MAX PARA TEMPERATURE
    MIRAE M500HT 512 -40℃~125℃
    M500H 512 -40℃~125℃
    M500 512 -40℃~125℃
    M510 512 -40℃~125℃
    M330H 128 -40℃~125℃
    ADVANTEST M6300 256 -40℃~125℃
    M6243 512 -40℃~125℃
    TECHWING TW350HT 512 -40℃~125℃
    TW-S7 768 -40℃~125℃
    TW312 320 -40℃~125℃

  • Burn In Test Burn-In과 Function Test를 함께 할 수 있는 장비들을 보유하고 있으며, Test 진행에 필요한 Accessory (BIB, COK)의 신속하고 저렴한 공급을 지원하고 있습니다.

    Burn In Test
    TEST PROCESS MAKER MODEL SPEED DUTS(MAX) TARGET DEVICE
    Hybrid Burn-In UNITEST UNI940A 400Mbps 6144 DDR4
    Sorter JT Corp JTS-30K-R2 - 16 BGA, TSOP

  • Back end 테스트 완료된 양품의 제품을 고객의 요구사항에 맞게 Laser Marking, Visaul Inspection, Bake, Packing 등의 서비스를 제공합니다.

    Wafer Test
    TEST PROCESS MAKER MODEL
    Marking SAMIL SLM-27T
    LIS ICOS CI-T120
    INTEKPLUS IPIS-300
    TAPE & REEL HI-Q HQ-8000
    BAKE OVEN 1First TSO-250
    DUOCOM HS-2954
    LCS SAMIL SMC-2700
    AUTO FILLING SAMIL FLM-28